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http://www.chem17.com/st336815/erlist_1387470.html
奥林巴斯BX51M介绍
可用于观察4寸以及4寸一下的硅片
明场，暗场，偏光，微分干涉相衬，荧光观察方式可选
可连接多种胶片或数字照相系统
·使用**物镜实现明场、暗场、荧光、微分干涉、偏光的各种观察
·出类拔萃的明视野显微镜图像质量
·优秀的荧光观察功能， 100W 汞灯的有效光强比原来增加一倍
·解像度和对比度鲜明的诺曼斯基微分干涉衬比法观察
·放大倍率 50×～1000×
奥林巴斯BX51M
·高刚性的 Y形镜体结构提供 极高的稳定性及系统灵活性
留了常规显微镜检查的传统衬度对比法，比如明场、暗场、偏光和微分干涉。随着新材料的发展，现在可以使用**的显微镜检查技术来进行更精确和更可靠的检查，从而解决了以往很多使用传统衬度对比法检查时遇到的缺陷检测方面的困难
奥林巴斯BX51M
MIX组合式观察技术组合了明场和暗场照明方法。MIX组合式照明滑块中的LED光源，以定向暗场光线照射样品，这种方式类似于传统暗场照明，但又具有更大的灵活性。这种明场与定向暗场的组合称为MIX组合式照明，对突出显示缺陷和区分隆起与凹陷表面很有用处。